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菲希爾FISCHER X射線XULM240

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菲希爾FISCHER X射線XULM240，基于 X 射線熒光光譜技術，X 射線激發樣品鍍層產生特征熒光，通過檢測熒光強度結合基本參數法（FP 法）計算鍍層厚度 / 元素成分；全程無損、無需破壞樣品。主打微聚焦測量，特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結構的檢測。

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菲希爾FISCHER X射線XULM240的詳細資料：

菲希爾FISCHER X射線XULM240

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240關鍵技術規格

X 射線源：50 kV/50 W 鎢靶微聚焦 X 射線管；

準直器與濾片：4 個電動切換準直器（最小 0.05×0.05 mm），3 個自動切換初級濾片；最小測量點約 0.09×0.09 mm；

探測器：比例計數管，高計數率，縮短測量時間；

觀測系統：500 萬像素彩色視頻顯微鏡，38×–184× 變焦，可實時觀察測量點；

樣品空間：樣品高度 170 mm，測量距離 0–27.5 mm 可調；

精度表現：Au>0.1 μm 時，標樣校準誤差 <±5%，無標樣 <±10%；80 nm 金鍍層重復精度達 2.5 nm，COV<5%；

軟件：配套 WinFTM® 專業軟件，支持數據實時傳輸、自動校準、統計分析、自定義報告導出；

安全：通過型式批準的全防護設備，符合 RoV 等法規要求。